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            • 金屬分析儀

              它還采用*的焦距距離計算辦法(DCM)， 操作員現在可以隨時改變焦距測量， 對一些形狀復雜的工件尤其方便。

            • X-射線鍍層測厚儀

              它還采用*的焦距距離計算辦法(DCM)， 操作員現在可以隨時改變焦距測量， 對一些形狀復雜的工件尤其方便。

            • X-謝線鍍層測厚及金屬分析儀/螢光X線膜厚計

              FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標準ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射線熒光分析法來進行測量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之間的比重， 還可以進行金屬物料分析。

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