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      半導體pct老化試驗箱

      更新時間:2022-06-01

      半導體pct老化試驗箱用途:測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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      半導體pct老化試驗箱性能:

      1、測試環境條件4、2、 測試方法 環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

      2、溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點)

      3、溫度波動度 ±0、5℃、

      4、溫度偏差 ±2、0℃、

      5、濕度范圍 75% ~ 100 %R、H 、 (控制點)

      6、濕度波動度 ±2、5 %R、H、

      7、濕度均勻度 ±5、0%、

      8、壓力范圍 0、5~2㎏/㎝2 (0、05~0、196 MPa) (控制點)

      9、升溫時間 常溫 → + 132℃ 35 min 、

      10、升壓時間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min

      半導體pct老化試驗箱

      半導體pct老化試驗箱技術規格

      <strong><strong><strong><strong>半導體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

      pct老化試驗箱的特點:  

      1、技術精密,具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動加水200h。  

      2、試驗過程中圓幅內襯設計,可避免蒸汽過熱沖擊損失測品。  

      3、圓型門設計,能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制,鎖牢固才能啟動試驗機,箱內壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。  

      4、計時安裝,LED數字型計時器,當鍋內溫度達到后計時器確保試驗完全,計時從表格1驅動。

      5、精準的壓力,溫度表隨時顯示鍋內壓力與溫度,精準壓力+0、2~2、0kg/cm2、  

      6、試驗開始前使用真空泵抽真空,將機器原來的空氣抽出并過濾與至新鮮空氣一切完整開始試機。  

      7、箱內經過拋光處理經久耐用、美觀、不沾污。  

      8、運轉時流水自動排出未飽和蒸汽已達到飽和。  

      9、異常原因及故障指示燈顯示,設置自動保護LIMIT安全。

      <strong><strong><strong><strong>半導體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

      pct老化試驗箱試樣限制本試驗設備禁止:

          易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。強電磁發射源試樣的試驗或儲存。

      半導體pct老化試驗箱用途:

          測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

      半導體pct老化試驗箱

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